IEC 60749-33:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia acelerada a la humedad. Autoclave imparcial.

Estándar No.

IEC 60749-33:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60749-33:2005

Reemplazar

IEC 47/1737/FDIS:2003 IEC 60749-33:2004 IEC/PAS 62172:2000

Alcance

La prueba de autoclave imparcial se realiza para evaluar la integridad de la resistencia a la humedad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticamente que utilizan entornos de condensación de humedad o vapor saturado de humedad. Es una prueba altamente acelerada que emplea cond

IEC 60749-33:2005 Historia

• 2005 IEC 60749-33:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia acelerada a la humedad. Autoclave imparcial.
• 2004 IEC 60749-33:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62172:2000).