EN 60749-5:2003
Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario

Estándar No.
EN 60749-5:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Estado
Remplazado por
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Ultima versión
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EN 60749-5:2003 Historia

  • 2017 EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
  • 2003 EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario


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