EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN 60749-5:2017
Remplazado por
prEN IEC 60749-5:2022
Alcance
IEC 60749-5:2017(E) proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estable con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Esta segunda edición anula y reemplaza la primera edición publicada en 2003. Esta edición constituye una revisión técnica. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos respecto a la edición anterior: a) corrección de un error en una ecuación; b) inclusión de notas orientativas; c) aclaración de la aplicabilidad de las condiciones de prueba.
EN 60749-5:2017 Historia
2017EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
2003EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario