IEEE Std C37.26-2003
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje.

Estándar No.

IEEE Std C37.26-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE Std C37.26-2014

Ultima versión

IEEE Std C37.26-2014

Alcance

Describe tres métodos utilizados en la medición del factor de potencia de circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V y menos). Estos métodos son: 1) método de radio, 2) método de disminución de CC y 3) método de relación de fase.

IEEE Std C37.26-2003 Historia

• 2014 IEEE Std C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
• 2003 IEEE Std C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje.
• 1972 IEEE Std C37.26-1972 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de baja tensión.
• 1971 IEEE C37.26-1971 Guía estándar para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje