IEEE Std C37.26-1972
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de baja tensión.

Estándar No.

IEEE Std C37.26-1972

Fecha de publicación

1972

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE Std C37.26-2003

Ultima versión

IEEE Std C37.26-2014

IEEE Std C37.26-1972 Historia

• 2014 IEEE Std C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
• 2003 IEEE Std C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje.
• 1972 IEEE Std C37.26-1972 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de baja tensión.
• 1971 IEEE C37.26-1971 Guía estándar para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje