(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
El método descrito en este documento se aplica a todas las pruebas de confiabilidad específicas de aplicaciones para componentes de estado sólido con mecanismos de falla conocidos donde la duración y las condiciones de la prueba varían según las variables de la aplicación. Este documento no cubre las pruebas de confiabilidad que se basan en la caracterización o esencialmente pruebas de tipo pasa/no pasa, por ejemplo, ESD, enganche o sobretensión eléctrica. Además, no intenta cubrir todos los mecanismos de falla o entornos de prueba, pero proporciona una metodología que puede extenderse a otros mecanismos de falla y entornos de prueba. El propósito de este documento es proporcionar un método para desarrollar una metodología de evaluación de confiabilidad específica de la aplicación basada en las condiciones de uso que se espera que experimente el dispositivo de estado sólido en el campo. Se supone que los mecanismos y modelos de falla, relevantes para el producto que se está probando, son una entidad conocida.
JEDEC JESD94A-2008 Documento de referencia
JEDEC JEP148 Calificación de confiabilidad de dispositivos semiconductores basada en la evaluación de oportunidades y riesgos de fallas físicas