JEDEC JESD22-A110-B-1999

Estándar No.
JEDEC JESD22-A110-B-1999
Fecha de publicación
1999
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Estado
Alcance
Las tolerancias se aplican a toda el área de prueba utilizable. 2 Sólo para información. 3 Las condiciones de prueba deben aplicarse continuamente excepto durante las lecturas intermedias. NOTA: Para lecturas provisionales, los dispositivos deben devolverse a tensión dentro del tiempo especificado en 4.5. 4 Para piezas que alcanzan el equilibrio de absorción en 24 horas o menos, la prueba HAST equivale a al menos 1000 horas a 85 "C185 %RH. Para piezas que requieren más de 24 horas para alcanzar el equilibrio en la condición HAST especificada, el tiempo debe extenderse para permitir que las piezas alcancen el equilibrio. 5 Precaución: Para los microcircuitos encapsulados en plástico, se sabe que la humedad reduce la temperatura de transición vítrea efectiva del compuesto de moldeo. Las temperaturas de tensión superiores a la temperatura de transición vítrea efectiva pueden provocar mecanismos de falla no relacionados con el estándar 85OC /85% HR estrés.



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