1.1 Esta práctica está diseñada para calibrar el aumento de microscopios electrónicos de barrido (SEM) utilizando el material de referencia estándar (SRM) de muestra de calibración del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST)484. Dado que la relación entre el aumento verdadero y el aumento indicado en la lectura SEM puede ser diferente en diferentes aumentos, esta práctica debe aplicarse a cada aumento para el cual se desea un aumento verdadero. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E766-98 Historia
2019ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido