El manejo y preparación adecuados de las muestras es particularmente crítico para el análisis. La manipulación inadecuada de las muestras puede provocar alteraciones de la composición de la superficie y datos poco fiables. Las muestras deben manipularse con cuidado para evitar la introducción de contaminantes espurios. El objetivo debe ser preservar el estado de la superficie para que el análisis siga siendo representativo del tema original. La espectroscopia de electrones Auger (AES), la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) y la espectroscopia de masas de iones secundarios (SIMS) son sensibles a capas superficiales que suelen tener unos pocos nanómetros de espesor. Estas capas delgadas pueden estar sujetas a graves perturbaciones debido al manejo inadecuado de las muestras (1).3 Esta guía describe métodos para minimizar los efectos del manejo de las muestras en los resultados obtenidos utilizando técnicas analíticas sensibles a la superficie. Está destinado al propietario de la muestra o al comprador de servicios analíticos de superficies y al analista de superficies. Debido a la amplia gama de tipos de especímenes y la información deseada, aquí sólo se presentan pautas generales y ejemplos generales. Los procedimientos de manipulación óptimos dependerán de la muestra particular y de la información necesaria. Se recomienda que el proveedor de la muestra consulte al analista de superficies lo antes posible con respecto al historial de la muestra, el problema específico a resolver o la información necesaria, y los procedimientos particulares de preparación o manipulación de la muestra requeridos. El analista de superficies también debe consultar la Guía E 1078, que analiza procedimientos adicionales para la preparación, montaje y análisis de muestras. 1.1 Esta guía cubre el manejo y preparación de muestras antes del análisis de superficies y se aplica a las siguientes disciplinas de análisis de superficies: 1.1.1 Electrónica de barrena espectroscopia (AES), 1.1.2 espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS o ESCA) y 1.1.3 espectrometría de masas de iones secundarios, SIMS.1.1.4 Aunque están escritos principalmente para AES, XPS y SIMS, estos métodos también pueden aplicarse a muchos métodos de análisis sensibles a la superficie, como la espectrometría de dispersión de iones, la difracción de electrones de baja energía y la espectroscopia de pérdida de energía de los electrones, donde la manipulación de muestras puede influir en las mediciones sensibles a la superficie.1.2 Esta norma no pretende abordar todas las preocupaciones de seguridad, si las hubiera. , asociado a su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1829-02 Historia
2020ASTM E1829-14(2020) Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie