Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-22-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 22: Fuerza de unión)
IEC 60749-22:2002/COR1:2003 Historia
2003IEC 60749-22:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión.
2002IEC 60749-22:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión.