IEC 60749-1:2002/COR1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.

Estándar No.

IEC 60749-1:2002/COR1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60749-1:2002/COR1:2003

Alcance

Esta norma es Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 1: General; Corrección 1.

IEC 60749-1:2002/COR1:2003 Historia

• 2003 IEC 60749-1:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.
• 2002 IEC 60749-1:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.