IEC 60749-17:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.

Estándar No.

IEC 60749-17:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2019-03

Remplazado por

IEC 60749-17:2019

Ultima versión

IEC 60749-17:2019

Reemplazar

IEC 47/1668/FDIS:2002

Alcance

Se utiliza para determinar la susceptibilidad de los dispositivos semiconductores a la degradación en el entorno de neutrones. Aplicable a circuitos integrados y dispositivos semiconductores discretos.

IEC 60749-17:2003 Historia

• 2019 IEC 60749-17:2019 Dispositivos semiconductores – Métodos de prueba mecánicos y climáticos – Parte 17: Irradiación de neutrones (Edición 2.0)
• 2003 IEC 60749-17:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.