Este PAS describe el método de medición de propiedades dieléctricas en la dirección plana de una placa dieléctrica a frecuencia de microondas para desarrollar nuevos materiales y diseñar dispositivos activos y pasivos de microondas. Este método se llama método de resonador de cavidad. Este método tiene las siguientes características: ? los valores de permitividad relativa ε′ y tangente de pérdida tan δ de una muestra de placa dieléctrica se pueden medir con precisión y de forma no destructiva; ? se puede medir la dependencia de la temperatura de la permitividad compleja; ? la precisión de la medición está dentro del 0,3% para ε′ y dentro de 5 ×10-6 para tan δ; ? El efecto marginal se corrige mediante tablas de corrección calculadas sobre la base de un análisis riguroso. Este método es aplicable para mediciones en las siguientes condiciones: ? frecuencia : 2 GHz < f < 40 GHz; ? permitividad relativa: 2 < ε′ < 100; ? tangente de pérdida: 10–6 < tan δ < 10–2.
IEC PAS 62562:2008 Historia
2008IEC PAS 62562:2008 Método de resonador de cavidad para medir la permitividad compleja de placas dieléctricas de bajas pérdidas
IEC PAS 62562:2008 Método de resonador de cavidad para medir la permitividad compleja de placas dieléctricas de bajas pérdidas ha sido cambiado a IEC 62562:2010 Método de resonador de cavidad para medir la permitividad compleja de placas dieléctricas de bajas pérdidas.