IEC 62562:2010 Método de resonador de cavidad para medir la permitividad compleja de placas dieléctricas de bajas pérdidas normas y especificaciones

Alcance: El objeto de esta norma internacional es describir un método de medición de propiedades dieléctricas en la dirección plana de una placa dieléctrica a frecuencia de microondas. Este método se llama método de resonador de cavidad. Fue creado para desarrollar nuevos materiales y diseñar dispositivos activos y pasivos de microondas para los cuales la estandarización de los métodos de medición de las propiedades de los materiales es cada vez más importante. Este método tiene las siguientes características: ¿la permitividad relativa? y los valores tangentes de pérdida tangencial de una muestra de placa dieléctrica se pueden medir con precisión y de forma no destructiva; ? se puede medir la dependencia de la temperatura de la permitividad compleja; ? la precisión de la medición está dentro del 0@3 % para ??' y dentro de 5??10?C6 para bronceado??; ? El efecto marginal se corrige mediante tablas de corrección calculadas sobre la base de un análisis riguroso. Este método es aplicable para las mediciones en las siguientes condiciones: ?C frecuencia: 2 GHz menos de 40 GHz; ?C permitividad relativa: 2menos que?? menos de 100; ?C tangente de pérdida: 10?C6menos quetan??menos que10-2.

IEC 62562:2010 Historia

2010 IEC 62562:2010 Método de resonador de cavidad para medir la permitividad compleja de placas dieléctricas de bajas pérdidas