JIS R 7651:2007
Medición de parámetros reticulares y tamaños de cristalitos de materiales de carbono.
- Estándar No.
- JIS R 7651:2007
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Estado
- Remplazado por
- JIS R 7651 ERRATUM 1:2008
- Ultima versión
- JIS R 7651 ERRATUM 1:2008
- Alcance
- Esta norma mide el patrón de difracción de rayos X de una muestra de polvo de material de carbono utilizando un Esta sección estipula cuestiones generales al medir el tamaño.
JIS R 7651:2007 Documento de referencia
- JIS K 0131 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS R 7651:2007 Historia
- 2008 JIS R 7651 ERRATUM 1:2008 ERRATA
- 2007 JIS R 7651:2007 Medición de parámetros reticulares y tamaños de cristalitos de materiales de carbono.
