SJ 2658.12-1986
Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 2658.12-1986

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

 2016-04

Remplazado por

SJ/T 2658.12-2015

Ultima versión

SJ/T 2658.12-2015

SJ 2658.12-1986 Historia

• 2015 SJ/T 2658.12-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 12: Longitud de onda de emisión máxima y ancho de banda radiante espectral.
• 1970 SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral

SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral ha sido cambiado a SJ/T 2658.12-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 12: Longitud de onda de emisión máxima y ancho de banda radiante espectral..