GB/T 20724-2006
Método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 20724-2006

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2006

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Estado

 2022-07

Remplazado por

GB/T 20724-2021

Ultima versión

GB/T 20724-2021

Alcance

Esta norma especifica el método de difracción de electrones de haz convergente para la determinación del espesor de muestras de cristales delgados mediante microscopía electrónica de transmisión. Este método es adecuado para medir el espesor de cristales delgados con una dimensión lineal de 10-9 ma × 10-3 my un espesor que oscila entre decenas y cientos de nanómetros.

GB/T 20724-2006 Documento de referencia

• GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.

GB/T 20724-2006 Historia

• 2021 GB/T 20724-2021 Análisis de microhaz: método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.
• 2006 GB/T 20724-2006 Método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.