EN 13925-2:2003
Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Estándar No.
EN 13925-2:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
European Committee for Standardization (CEN)
Ultima versión
EN 13925-2:2003
Alcance
Esta norma europea especifica los procedimientos básicos aplicados en el método de difracción de rayos X en polvo (XRPD). Muchos de estos procedimientos son comunes a la mayoría de los tipos de difractómetros utilizados y tipos de análisis mencionados en la norma EN 13925-1. En aras de la claridad y la usabilidad inmediata, más detalles. se dan para procedimientos que utilizan instrumentos con geometría de Bragg-Brentano y su aplicación a la identificación de fases. Se incluyen aspectos de preparación de muestras y evaluación de la calidad de los datos, pero el estándar no es exhaustivo. Se prevé que determinadas normas aborden campos de aplicación específicos con más detalle.

EN 13925-2:2003 Historia

  • 2003 EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos



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