IEC 60749-34:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclos de energía.

Estándar No.

IEC 60749-34:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2010-10

Remplazado por

IEC 60749-34:2010

Ultima versión

IEC 60749-34:2010

Alcance

Se utiliza para determinar la resistencia de un dispositivo semiconductor a tensiones térmicas y mecánicas debidas al ciclo de la disipación de potencia de la matriz semiconductora interna y los conectores internos. Esto sucede cuando las polarizaciones operativas de bajo voltaje para la conducción directa

IEC 60749-34:2005 Historia

• 2010 IEC 60749-34:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclos de energía.
• 2005 IEC 60749-34:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclos de energía.
• 2004 IEC 60749-34:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclos de energía.