IEC PAS 62191:2000
Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.

Estándar No.

IEC PAS 62191:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2002-03

Ultima versión

IEC PAS 62191:2000

Remplazado por

IEC 60749-35:2006

IEC PAS 62191:2000 Historia

• 2000 IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.

IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos. ha sido cambiado a IEC 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico..