GB/T 1555-1997
Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 1555-1997
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1997
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 1555-2009
- Ultima versión
- GB/T 1555-2023
- Alcance
- Esta norma especifica los métodos para la orientación por difracción de rayos X y la orientación del patrón óptico de monocristales semiconductores. Esta norma es aplicable a la determinación de la orientación de la superficie de cristales de materiales monocristalinos semiconductores aproximadamente paralelos a los planos atómicos de bajo índice. Esta norma incluye dos métodos de prueba: Método A. Método de orientación por difracción de rayos X. Este método se puede utilizar para la orientación de todos los monocristales semiconductores. Método B Método de orientación del mapa de luces. Este método se utiliza actualmente para la orientación de monocristales semiconductores de un solo elemento.
GB/T 1555-1997 Historia
- 2023 GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
- 2009 GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
- 1997 GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
