GB/T 1553-1997
Métodos de prueba estándar para la vida útil de los portadores minoritarios en germanio y silicio a granel mediante la medición de la decadencia de la fotoconductividad (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 1553-1997
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1997
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 1553-2009
- Ultima versión
- GB/T 1553-2023
- Alcance
- Esta norma especifica el método de medición de la vida útil de los portadores minoritarios en monocristales de silicio y germanio. Esta norma se aplica a la medición de la vida útil de portadores minoritarios en desequilibrio en el proceso de recombinación de portadores en monocristales extrínsecos de silicio y germanio.
GB/T 1553-1997 Historia
- 2023 GB/T 1553-2023 Determinación de la vida útil de los portadores minoritarios en silicio y germanio mediante el método de desintegración de la fotoconductividad
- 2009 GB/T 1553-2009 Métodos de prueba para determinar la vida útil de los portadores minoritarios en germanio y silicio a granel mediante la medición de la decadencia de la fotoconduividad.
- 1997 GB/T 1553-1997 Métodos de prueba estándar para la vida útil de los portadores minoritarios en germanio y silicio a granel mediante la medición de la decadencia de la fotoconductividad
