DIN 50450-1:1987
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.
- Estándar No.
- DIN 50450-1:1987
- Fecha de publicación
- 1987
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN 50450-1:1987-08
- Ultima versión
- DIN 50450-1:1987-08
- Alcance
- La norma determina un método de prueba para la determinación de impurezas del agua en gases portadores y gases dopantes (H2, O, N, Ar, He) utilizados en la tecnología de semiconductores.
DIN 50450-1:1987 Historia
- 1987 DIN 50450-1:1987-08 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.
- 1987 DIN 50450-1:1987 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.
