DIN 50450-1:1987-08
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.

Estándar No.

DIN 50450-1:1987-08

Fecha de publicación

1987

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN 50450-1:1987-08

DIN 50450-1:1987-08 Historia

• 1987 DIN 50450-1:1987-08 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.
• 1987 DIN 50450-1:1987 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.