GB/T 6618-1995
(Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 6618-1995
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1995
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 6618-2009
- Ultima versión
- GB/T 6618-2009
- Alcance
- Esta norma especifica los métodos de medición de punto discreto y escaneo para el espesor y la variación del espesor total de obleas de silicio monocristal cortadas, molidas y pulidas (obleas de silicio para abreviar).
GB/T 6618-1995 Historia
- 2009 GB/T 6618-2009 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.
- 1995 GB/T 6618-1995
