Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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IEEE Std 1149.7-2022
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En este estándar se describen los circuitos que se pueden agregar a un circuito integrado para proporcionar acceso a los puertos de acceso de prueba (TAP) en el chip especificados por IEEE Std 1149.1. Los circuitos utilizan IEEE Std 1149.1 como base, lo que proporciona compatibilidad completa con versiones anteriores, al tiempo que agresivamente agregando funciones para admitir pruebas y depuración de aplicaciones.Define seis clases de puertos de acceso de prueba IEEE 1149.7 (TAP....
IEEE Std 1149.7-2022 Historia
2022IEEE Std 1149.7-2022 Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
2010IEEE Std 1149.7-2009 Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido