IEEE Std 1149.7-2009
Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
- Estándar No.
- IEEE Std 1149.7-2009
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Estado
- 2022-10
- Remplazado por
- IEEE Std 1149.7-2022
- Ultima versión
- IEEE Std 1149.7-2022
- Alcance
- Esta especificación describe los circuitos que se pueden agregar a un circuito integrado para proporcionar acceso a los puertos de acceso de prueba (TAP) en el chip especificados por IEEE Std 1149.1¿-2001. El circuito utiliza IEEE 1149.1-2001 como base, proporcionando completa compatibilidad con versiones anteriores, al mismo tiempo que agrega agresivamente características para admitir pruebas y depuración de aplicaciones. Define seis clases de puertos de acceso de prueba 1149.7 (TAP...
IEEE Std 1149.7-2009 Historia
- 2022 IEEE Std 1149.7-2022 Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
- 2010 IEEE Std 1149.7-2009 Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
