UNE-EN 60749-4:2017
Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

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2017

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UNE-EN 60749-4:2017 Historia

• 2017 UNE-EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
• 2003 UNE-EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST).