UNE-EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST).
2017UNE-EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
2003UNE-EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST).