ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X normas y especificaciones

Alcance: 1.1 El propósito de esta guía es familiarizar al analista con las principales técnicas de resta actualmente en uso junto con la naturaleza de su aplicación a la adquisición y manipulación de datos. 1.2 Esta guía está destinada a aplicarse a la resta de fondo en espectroscopia de electrones Auger (AES) y de rayos X excitados por iones, y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS). 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E995-16 Documento de referencia

2016 ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
2011 ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
2004 ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
1997 ASTM E995-97 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger