IEC 60749-29:2003
Dispositivos de semiconductores Méthodes d?essais mécaniques et climatiques Parte 29: Ensai de verrouillage (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62181)

Estándar No.

IEC 60749-29:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

IEC - International Electrotechnical Commission

Estado

 2011-04

Remplazado por

IEC 60749-29:2011

Ultima versión

IEC 60749-29:2011

Alcance

Cubre la prueba I y la prueba de enganche de sobretensión de circuitos integrados. El propósito de esta prueba es establecer un método para determinar las características de enganche de los circuitos integrados y definir criterios de falla de enganche.

IEC 60749-29:2003 Historia

• 2011 IEC 60749-29:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 29: Prueba de enganche.
• 2003 IEC 60749-29:2003 Dispositivos de semiconductores Méthodes d?essais mécaniques et climatiques Parte 29: Ensai de verrouillage (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62181)