YB/T 172-2020
Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X. (Versión en inglés)
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YB/T 172-2020
Estándar No.
YB/T 172-2020
Idiomas
Chino,
Disponible en inglés
Fecha de publicación
2020
Organización
工业和信息化部
Ultima versión
YB/T 172-2020
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YB/T 172-2000
YB/T 172-2020 Historia
2020
YB/T 172-2020
Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
2000
YB/T 172-2000
Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
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