YB/T 172-2000
Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X. (Versión en inglés)

Estándar No.

YB/T 172-2000

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2000

Organización

Professional Standard - Ferrous Metallurgy

Estado

 2021-04

Remplazado por

YB/T 172-2020

Ultima versión

YB/T 172-2020

YB/T 172-2000 Historia

• 2020 YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
• 2000 YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.