KS C IEC 60749-3-2019
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.

Estándar No.

KS C IEC 60749-3-2019

Fecha de publicación

2019

Organización

KR-KS

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-3:2021

Ultima versión

KS C IEC 60749-3:2021

KS C IEC 60749-3-2019 Historia

• 2021 KS C IEC 60749-3:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
• 2019 KS C IEC 60749-3:2019 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
• 2002 KS C IEC 60749-3:2002 Dispositivos semiconductores discretos－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 3:Examen visual externo