Esta norma especifica la preparación de muestras, los procedimientos de medición y el cálculo de resultados para medir el espesor del óxido de grafeno mediante microscopía de fuerza atómica (AFM). Esta norma es aplicable a la medición del espesor del óxido de grafeno cuyo diámetro no sea inferior a 300 nm. La medición del espesor de otros materiales bidimensionales se puede utilizar como referencia.
GB/T 40066-2021 Documento de referencia
GB/T 27760 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
GB/T 30544.13 Nanotecnologías — Vocabulario — Parte 13: Grafeno y materiales bidimensionales (2D) relacionados
JJF 1351 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
GB/T 40066-2021 Historia
2021GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)