IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
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IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Estándar No.
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Fecha de publicación
2011
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Historia
2011
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
2011
IEC 60749-23:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
2004
IEC 60749-23:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
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