DIN 50455-2:1999-11
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Métodos para la caracterización de fotorresistentes - Parte 2: Determinación de la fotosensibilidad de fotorresistentes positivos
- Estándar No.
- DIN 50455-2:1999-11
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN 50455-2:1999-11
DIN 50455-2:1999-11 Historia
- 1999 DIN 50455-2:1999-11 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Métodos para la caracterización de fotorresistentes - Parte 2: Determinación de la fotosensibilidad de fotorresistentes positivos
- 1999 DIN 50455-2:1999 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Métodos para la caracterización de fotorresistentes - Parte 2: Determinación de la fotosensibilidad de fotorresistentes positivos
