GB/T 6616-2023
Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 6616-2023

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2023

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 6616-2023

Reemplazar

GB/T 6616-2009

GB/T 6616-2023 Historia

• 2023 GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
• 2009 GB/T 6616-2009 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas semiconductoras o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
• 1995 GB/T 6616-1995