1.1 Esta práctica proporciona un medio reproducible mediante el cual se puede caracterizar el rendimiento de un microscopio electrónico de barrido (SEM). Este rendimiento es una medida de la combinación SEM-operador-material y se cuantifica mediante la medición de una "nitidez aparente del borde" efectiva para varios materiales, dos de los cuales se sugieren. Esta práctica requiere un SEM con la capacidad de realizar trazas de escaneo de líneas (por ejemplo, generación de formas de onda de desviación) para los materiales sugeridos. El rango de aumento SEM en el que esta práctica es de utilidad es de 1000 a 200 000 X. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E986-97 Historia
2017ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
2004ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
2004ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
1997ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido