ASTM E3220-20
Guía estándar para la caracterización de escamas de grafeno

Estándar No.
ASTM E3220-20
Fecha de publicación
2020
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Ultima versión
ASTM E3220-20
Alcance
1.1 Esta norma proporcionará orientación sobre los enfoques de medición para la evaluación del tamaño de las escamas laterales, el espesor promedio de las escamas, la relación de intensidad Raman de las bandas D a G y la relación carbono/oxígeno para el grafeno y productos relacionados. Las técnicas incluidas aquí son la microscopía de fuerza atómica, la espectroscopia Raman y la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Se darán ejemplos para cada tipo de medición. 1.2 Esta guía pretende servir como ejemplo para fabricantes, productores, analistas y otras personas interesadas en el grafeno y productos relacionados, como el óxido de grafeno y el óxido de grafeno reducido. Esta Guía estándar no pretende ser una descripción general completa de todos los métodos de caracterización posibles. 1.3 Esta guía no incluye todos los procedimientos de preparación de muestras para todos los materiales y aplicaciones posibles. El usuario debe validar la idoneidad para su aplicación particular. 1.4 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.6 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.

ASTM E3220-20 Documento de referencia

  • ASTM E2530 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)*2023-10-29 Actualizar

ASTM E3220-20 Historia

  • 2020 ASTM E3220-20 Guía estándar para la caracterización de escamas de grafeno



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