DIN EN 62047-11:2014-04
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos (IEC 62047-11:2013); Versión alemana EN 62047-11:2013
- Estándar No.
- DIN EN 62047-11:2014-04
- Fecha de publicación
- 2014
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 62047-11:2014-04
DIN EN 62047-11:2014-04 Historia
- 2014 DIN EN 62047-11:2014-04 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos (IEC 62047-11:2013); Versión alemana EN 62047-11:2013
- 2014 DIN EN 62047-11:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos (IEC 62047-11:2013); Versión alemana EN 62047-11:2013
- 0000 DIN IEC 62047-11:2010
