IEC 60749-10:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto.

Estándar No.

IEC 60749-10:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60749-10:2022

IEC 60749-10:2022 Historia

• 2022 IEC 60749-10:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto.
• 2003 IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.
• 2002 IEC 60749-10:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.