KS C IEC 60749-9-2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.

Estándar No.

KS C IEC 60749-9-2020

Fecha de publicación

2020

Organización

KR-KS

Ultima versión

KS C IEC 60749-9-2020

KS C IEC 60749-9-2020 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-9:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
• 2003 KS C IEC 60749-9:2003 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 9:Permanencia del marcado