"Este documento establece métodos para caracterizar la robustez de los módulos electrónicos del vehículo ante ciertas tensiones ambientales. Incluyen: Márgenes de diseño de voltaje-temperatura Interrupciones de voltaje-transitorios Sobretemperatura Caídas de voltaje Consumo de corriente bajo una serie de condiciones Estos métodos se pueden aplicar durante el desarrollo @ Pre -Calificación@ Calificación o conformidad. Este documento no aborda otras tensiones ambientales de robustez como vibración@ exposición a altas temperaturas@ fallas de carga@ESD@ etc. Filosofía de medición Las principales causas de los problemas de los sistemas electrónicos actuales son: 1. Requisitos no definidos adecuadamente (por ejemplo, funcionalidad @ entorno) 2. Interfaces del sistema 3. Problema no indicado (TNI) Un importante contribuyente a los problemas en estas categorías es la inmunidad conducida (CI). Los métodos utilizados en este documento están diseñados para abordar las deficiencias inherentes a otros comúnmente utilizados. métodos de validación para CI. Se especifica un enfoque alternativo para complementar esos métodos. Utiliza técnicas relativamente simples y de bajo costo que no requieren un entorno de laboratorio. Esto facilita la identificación de inquietudes en las primeras etapas de la etapa de desarrollo (aunque se pueden utilizar en cualquier etapa). La inmunidad conducida es un problema importante para la electrónica actual. Ese aspecto de la compatibilidad electromagnética (EMC) tiene el mayor potencial de problemas de garantía y satisfacción del cliente. Sin embargo, las pruebas de validación tradicionales para la IC tienen importantes limitaciones. Específicamente, las pruebas de CI se realizan con mayor frecuencia a temperatura ambiente debido a la naturaleza del equipo y las instalaciones de prueba: la respuesta del producto podría ser diferente cuando está frío o caliente que a temperatura ambiente. Otra limitación es que se utilizan señales muy repetibles, precisas e idealizadas para representar el "mundo real". Si bien esto parecería deseable, no es necesariamente así. El "mundo real" contiene aleatoriedad y otras características (por ejemplo, impedancias complejas) que no se reproducen en dichas señales de prueba idealizadas. La aleatoriedad es extremadamente crítica para un DUT tipo microprocesador ya que el evento de estrés (por ejemplo, transitorios) a menudo debe alinearse en el tiempo con cierto punto en la ejecución del software para tener un efecto. Además del CI@, el consumo de corriente bajo una serie de condiciones también se caracteriza porque es una buena indicación del funcionamiento adecuado del módulo@degradación durante las pruebas ambientales@detección de cambios involuntarios en el diseño o proceso de fabricación (conformidad) y detección de rutas furtivas. Es importante tener en cuenta que muchas de estas pruebas no son del tipo "prueba de éxito", donde los resultados se clasifican como aprobados o reprobados. Estas pruebas tienen un valor limitado ya que generan poca información. El objetivo es generar datos variables o anomalías para que se obtenga la máxima cantidad de información y se pueda emitir un juicio de ingeniería informado. Justificación Los métodos en este documento@ que utilizan técnicas relativamente simples y de bajo costo@ están diseñados para abordar algunas de las deficiencias inherentes a otros métodos de prueba comúnmente utilizados para la inmunidad conducida. Ejemplos de tales deficiencias: no probados en todo el rango de temperatura y uso de señales idealizadas que no representan adecuadamente el mundo real. También aborda otras cuestiones de solidez que no se abordan en ningún otro lugar".