SJ 2214.8-1982
Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 2214.8-1982

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1982

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

 2015-10

Remplazado por

SJ/T 2214-2015

Ultima versión

SJ/T 2214-2015

SJ 2214.8-1982 Historia

• 2015 SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
• 1982 SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores.

SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores. ha sido cambiado a SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores..