SJ/T 2214-2015
Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 2214-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 2214-2015

Reemplazar

SJ/T 2214.1-1982 SJ/T 2214.2-1982 SJ/T 2214.3-1982 SJ/T 2214.4-1982 SJ/T 2214.5-1982 SJ/T 2214.6-1982 SJ/T 2214.7-1982 SJ/T 2214.8-1982 SJ/T 2214.9-1982 SJ/T 2214.10-1982

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para los parámetros optoelectrónicos de fotodiodos y fototransistores semiconductores (en adelante, "dispositivos"). Esta norma es aplicable a las pruebas de parámetros fotoeléctricos de fotodiodos y fototransistores semiconductores. Esta norma no se aplica a las pruebas de PIN y fotodiodos de avalancha.

SJ/T 2214-2015 Historia

• 2015 SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
• 0000 SJ/T 2214.10-1982