2015SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
1982SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores.
SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores. ha sido cambiado a SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores..