SJ 2354.10-1983
Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 2354.10-1983

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1983

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

 2015-10

Remplazado por

SJ/T 2354-2015

Ultima versión

SJ/T 2354-2015

SJ 2354.10-1983 Historia

• 2015 SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
• 1983 SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.

SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha. ha sido cambiado a SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD.