SJ/T 2354-2015
Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 2354-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 2354-2015

Reemplazar

SJ/T 2354.1-1983 SJ/T 2354.2-1983 SJ/T 2354.3-1983 SJ/T 2354.4-1983 SJ/T 2354.5-1983 SJ/T 2354.6-1983 SJ/T 2354.7-1983 SJ/T 2354.8-1983 SJ/T 2354.9-1983 SJ/T 2354.10-1983 SJ/T 2354.11-1983 SJ/T 2354.12-1983 SJ/T 2354.13-1983 SJ/T 2354.14-1983

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para los parámetros fotoeléctricos de PIN y fotodiodos de avalancha (en adelante, "diodos").

SJ/T 2354-2015 Historia

• 2015 SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
• 0000 SJ/T 2354.14-1983