ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos. normas y especificaciones

Alcance: Este documento describe un procedimiento para la determinación del módulo elástico para materiales compatibles utilizando un microscopio de fuerza atómica (AFM). Se miden las curvas fuerza-distancia en la superficie de los materiales flexibles y el análisis utiliza un método de dos puntos basado en la teoría de Johnson-Kendall-Roberts (JKR). Este documento es aplicable a materiales compatibles con módulos elásticos que oscilan entre 100 kPa y 1 GPa. La resolución espacial depende del radio de contacto entre la sonda AFM y la superficie y suele ser de aproximadamente 10 a 20 nm.

ISO 21222:2020 Documento de referencia

ISO 11775
ISO 18115-2 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.*， 2021-12-21 Actualizar

2020 ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.